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J-GLOBAL ID：201902233664931020   整理番号：19A0090976

低周波振動環境における電子製品の信頼性解析【JST・京大機械翻訳】

Reliability Analysis of Electronic Products in Medium Low Frequency Vibration Environment

著者 (5件)： Qi Yaxin (北京航天光華電子技術有限公司検測試験中心,北京,100854) ,  Chen Song (北京航天光華電子技術有限公司検測試験中心,北京,100854) ,  Wang Zhicai (北京航天光華電子技術有限公司検測試験中心,北京,100854) ,  Liu Weibing (北京航天光華電子技術有限公司検測試験中心,北京,100854) ,  Jiang Hui (北京航天光華電子技術有限公司検測試験中心,北京,100854)
資料名： Huanjing Jishu  (Huanjing Jishu)
巻： 36  号： 5  ページ： 46-51  発行年： 2018年 
JST資料番号： C3765A  ISSN： 1004-7204  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 本文では、電動振動台を用いて振動環境を模擬し、ある型の電子製品を試験対象として、この10台(ジャケット)の製品単板と全機帯ダンパを500時間低周波振動し、電子製品の低周波振動環境センターの電子製品の破壊モードを分析した。また、この製品を試験対象として、ダンパを解体し、中間周波数振動を行い、電子製品の中周波振動環境における損傷規律を述べた。研究により、低周波振動は電子製品のほとんど損傷がなく、中間周波数振動環境での主要な破壊メカニズムは疲労損傷である。共振周波数、ノイズ干渉と共振ピーク値は中、低周波数振動による電子製品の損傷の主な原因であり、中低周波振動環境に基づいて電子製品の故障率を計算し、単板振動量の拡大を発見し、故障モデルを修正する。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 破壊モード ,  共振 ,  雑音 ,  *信頼性解析 ,  中間周波数 ,  ダンパ ,  単板 ,  干渉 ,  共振周波数 ,  故障率 ,  ピーク値 ,  疲れ損傷
準シソーラス用語： 故障モデル ,  破壊機構 ,  *低周波振動 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電力系統一般  (NB02000E)

タイトルに関連する用語 (4件)： 低周波振動 ,  環境 ,  電子製品 ,  信頼性解析