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J-GLOBAL ID：201902233736505309   整理番号：19A1804908

走査型イオンコンダクタンス顕微鏡におけるイオン電流-距離挙動の正確なモデルはピペットチップ形状とチップ-サンプル距離のキャリブレーションを可能にする【JST・京大機械翻訳】

An Accurate Model for the Ion Current-Distance Behavior in Scanning Ion Conductance Microscopy Allows for Calibration of Pipet Tip Geometry and Tip-Sample Distance

著者 (2件)： Rheinlaender Johannes (Institute of Applied Physics, University of Tuebingen, Germany) ,  Schaeffer Tilman E. (Institute of Applied Physics, University of Tuebingen, Germany)
資料名： Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)
巻： 89  号： 21  ページ： 11875-11880  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡(SICM)は,生体細胞のような水性環境におけるソフトサンプルの非接触地形イメージングと多物理的研究のための新しいツールである。SICMの人気の増加にもかかわらず,画像処理のいくつかの側面はまだ不明である。例えば,種々のチップ-サンプル距離に対するイオン電流の挙動の正確な記述はまだない。このイオン電流-距離挙動を予測するために,有限要素モデリングに基づく新しい数値モデルを提供した。このモデルは,SICM実験中のチップ-サンプル距離を正確に決定することを初めて可能にした。さらに,数値モデルを実験的イオン電流距離データに適合させることにより,ピペット先端形状を較正するための非破壊法を示し,30~300nmの開口半径を持つピペットを用いてこの方法を検証した。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *イオン電流 ,  開口 ,  画像処理 ,  *形態
準シソーラス用語： 先端形状 ,  *ピペット ,  レンジデータ ,  数値モデル ,  有限要素モデリング ,  非接触 ,  水環境 ,  生細胞 ,  *走査型イオン伝導顕微鏡 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (7件)： 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡 ,  イオン電流 ,  挙動 ,  モデル ,  ピペット ,  サンプル ,  キャリブレーション