文献

J-GLOBAL ID：201902234833842322   整理番号：19A2073010

クラスタリング欠陥を伴う時間依存絶縁破壊に関する寿命分布パラメータのベイズ推定

Bayesian inference of a lifetime distribution parameter on the time-dependent dielectric breakdown with clustering defects

著者 (3件)： KUNII Kyosuke (Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN) ,  ENDO Shun (Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN) ,  YOKOGAWA Shinji (Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 58  号： SH  ページ： SHHG02.1-SHHG02.8  発行年： 2019年07月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *クラスタ化 ,  *欠陥 ,  *絶縁破壊 ,  寿命試験 ,  Bayes推定 ,  寿命分布 ,  Weibull分布 ,  信頼性試験
準シソーラス用語： クラスタリング ,  *経時絶縁破壊 ,  *TDDB

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (43件)：

• J. H. Stathis, M. Wang, R. G. Southwick, E. Y. Wu, B. P. Linder, E. G. Linder, G. Bonilla, and H. Kothari, IEDM Tech. Dig., 2014, p. 522.
• P. Muroke, Proc. IEEE Int. Reliability Physics Symp., 2006, p. 313.
• K.-Y. Yiang, M. Chin, A. Marathe, and O. Aubel, Proc. IEEE Int. Reliability Physics Symp., 2010, p. 562.
• S. Yokogawa, S. Uno, I. Kato, H. Tsuchiya, T. Shimizu, and M. Sakamoto, Proc. IEEE Int. Reliability Physics Symp., 2011, p. 149.
• F. Chen et al., Proc. IEEE Int. Reliability Physics Symp., 2012, 6A.4.1.

タイトルに関連する用語 (7件)： クラスタリング ,  欠陥 ,  時間依存 ,  絶縁破壊 ,  寿命分布 ,  パラメータ ,  ベイズ推定