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J-GLOBAL ID:201902236710239714   整理番号:19A1997989

GAMMA10/PDXにおけるThomson散乱系を用いた電子温度と密度の径方向分布測定

Radial Profile Measurements of Electron Temperature and Density Using the Thomson Scattering System in GAMMA 10/PDX
著者 (12件):
資料名:
巻: 13  ページ: 3402051(J-STAGE)  発行年: 2018年 
JST資料番号: U0045A  ISSN: 1880-6821  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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タンデムミラーGAMMA10/PDXにおいて単一レーザショットで電子の温度と密度の径方向分布を測定するためのYAG Thomson散乱(TS)システムを開発した。TS光の光収集システムを,球面鏡と9本の束状光ファイバを用いて構成した。測定可能な半径位置は,高さが一定の光学台上に設定されたバンドル光ファイバの位置が固定されているため,±20cmの範囲で5cm間隔である。これをラボジャッキに置き換え,バンドル光ファイバ位置を可動にした。その結果,電子温度の半径方向分布をより詳細に測定できる。さらに,周辺プラズマ領域におけるTS光強度を増加させるために,主球面収集鏡の底に第三の球面集光鏡を追加した。この方法では,第三の収集鏡のない場合よりもわずかに大きなTS信号強度を得ることができる。GAMMA10/PDXにおける15箇所の半径位置における電子温度と密度の径方向のを得ることに成功した。TSシステムの電子密度測定のその場較正のために,TSシステム測定をマイクロ波干渉計システムを用いて測定した電子線密度と比較した。(翻訳著者抄録)
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分類 (3件):
分類
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プラズマ診断  ,  核融合装置  ,  プラズマ装置 
引用文献 (17件):

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