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J-GLOBAL ID:201902237560377699   整理番号:19A0656870

次世代ナノリソグラフィーのためのブロック共重合体自己集合に基づくサブ3nm特徴サイズの作製【JST・京大機械翻訳】

Fabrication of Sub-3 nm Feature Size Based on Block Copolymer Self-Assembly for Next-Generation Nanolithography
著者 (8件):
資料名:
巻: 50  号: 17  ページ: 6813-6818  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0952A  ISSN: 0024-9297  CODEN: MAMOBX  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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超高密度記憶媒体およびD-RAMに対して,リソグラフィーの特徴サイズは,非常に低減されなければならない(すなわち,10nm未満)。いくつかの研究グループは5~6nmの特徴サイズを報告しているが,次世代リソグラフィーのためにはさらに縮小した特徴サイズが必要である。PSブロック(f_PS)の体積分率を調整することにより,層状及び円筒状ミクロドメインを示す可逆的付加-フラグメンテーション連鎖移動重合,ポリジヒドロキシスチレン-block-ポリスチレン(PDHS-b-PS)共重合体を経由して合成した。PDHSとPS間のFlory-Huggins相互作用パラメータ(χ)は非常に大きく,170°Cで0.7であった。巨大χのために,2.1kgmol-1とf_PS=0.5の全分子量を有するPDHS-b-PSのラメラドメイン間隔(L)はわずか5.9nmであった。このようにして,サブ3nmの特徴サイズ(半ピッチ)を得ることに成功した。さらに,分子量4.2kgmol-1およびf_PS=0.79のPDHS-b-PSは,直径4nmの六角形充填円筒を示した。また,円筒状ミクロドメインを有するPDHS-b-PSの薄膜を得て,8.8nmの中心-中心間隔を示した。さらに,原子層堆積により円筒単分子層薄膜から超高密度ZrO_2ナノワイヤアレイを作製し,次世代リソグラフィー用のPDHS-b-PSの適用性を示した。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
高分子固体の構造と形態学 

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