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J-GLOBAL ID：201902245366257561   整理番号：19A1800961

SiO_x薄膜の酸素量に依存した充放電特性と形態変化

著者 (3件)： 春田正和 (同志社大) ,  土井貴之 (同志社大) ,  稲葉稔 (同志社大)
資料名： 電気化学会大会講演要旨集(CD-ROM)
巻： 86th  ページ： ROMBUNNO.1P12  発行年： 2019年03月13日 
JST資料番号： Y0048B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 1.目的 ハイブリッド・電気自動車の普及拡大により、リチウムイオン電池の大型化が望まれており、大容量負極材料としてSiの実用が期待されている。しかしSiは充放電に伴う大きな体積変化により活物質粒子が微粉化し、急激な寿命劣化を招くことが問題で...【本文一部表示】

シソーラス用語： *酸化ケイ素 ,  *薄膜 ,  *含有量 ,  *電気特性 ,  *膜電極 ,  スパッタ蒸着 ,  マグネトロンスパッタリング ,  二酸化ケイ素 ,  電子顕微鏡観察 ,  ケイ酸リチウム ,  サイクル寿命 ,  *リチウムイオン電池
準シソーラス用語： RFマグネトロンスパッタリング ,  *酸素量 ,  *充放電特性 ,  走査電子顕微鏡法 ,  非晶質二酸化ケイ素

分類 (1件)： 二次電池  (YB04030K)

タイトルに関連する用語 (3件)： 薄膜 ,  酸素量 ,  充放電特性