文献

J-GLOBAL ID：201902245956888389   整理番号：19A0524110

光学プローブを用いたプローブ装荷TEMセルの精密なEファイル均一性測定【JST・京大機械翻訳】

Precision E-field uniformity measurement of a probe loaded TEM cell using an optical probe

著者 (4件)： Moirioka Takehiro (Electromagnetic Fields Standard Group, National Institute of Industrial Science and Technology, Tsukuba, Ibaraki Japan) ,  Kurokawa Satoru (Electromagnetic Fields Standard Group, National Institute of Industrial Science and Technology, Tsukuba, Ibaraki Japan) ,  Toba Yoshikazu (Seikoh Giken Co., Ltd., Matsuhidai 415-2, Matsudo, Chiba 270-2214, Japan) ,  Ichijyo Jun (Seikoh Giken Co., Ltd., Matsuhidai 415-2, Matsudo, Chiba 270-2214, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： URSI AP-RASC  ページ： 1-3  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 横方向電磁(TEM)セルは標準的なE場発生器として通常使用されており,その場分布は重要な特性である。光学プローブを導入して,TEMセルのE-Fill均一性を調べた。このプローブは空間分解能の観点から利点があり,元の場分布に対する影響は無視できる。本論文では,無負荷およびプローブ負荷セルのE-Fill均一性を調べた。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 空間分解能 ,  光プローブ ,  *プローブ
準シソーラス用語： *TEMセル , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 光学プローブ ,  プローブ ,  TEMセル ,  ファイル ,  均一性