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J-GLOBAL ID:201902252059788301   整理番号:19A0330748

Si基板上に堆積したほぼ歪のないジルコニウム酸チタン酸鉛薄膜の圧電特性【JST・京大機械翻訳】

Piezoelectric properties of a near strain-free lead zirconate titanate thin films deposited on a Si substrate
著者 (9件):
資料名:
巻: 239  ページ: 71-74  発行年: 2019年 
JST資料番号: E0935A  ISSN: 0167-577X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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バッファ層構造を設計することにより,Si基板上の無歪ジルコニウム酸チタン酸鉛(PZT)薄膜に近い化学溶液堆積(CSD)を調製した。Zr/Ti=50/50から58/42の範囲の異なる組成を持つ歪フリーPZT薄膜を得て,圧電特性に及ぼす格子歪効果を実証した。結果は,Si基板上でさえ,SrRuO_3(SRO:160nm)/(La_0.5,Sr_0.5)CoO_3(LNO:90nm)/LaNiO_3(LNO:120nm)/積層構造により,近歪フリー条件が達成されることを示した。近歪フリーPZT薄膜の最も高い実効d_33値は,53/47組成で観察された。それは,バルク材料と同じであるが,最も高い有効d_33値は,圧縮格子歪条件下で58/42組成から得られた。Copyright 2019 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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酸化物薄膜  ,  圧電気,焦電気,エレクトレット 

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