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J-GLOBAL ID：201902255964461876   整理番号：19A1113399

極低温における陽子下の電子デバイスの特性評価のためのセットアップの評価【JST・京大機械翻訳】

Assessment of a Setup for the Characterization of Electronic Devices under Protons at Cryogenic Temperature.

著者 (7件)： Bezerra F. (Centre National d’Etudes Spatiales, Toulouse, 31401, FRANCE) ,  Boutillier M. (Centre National d’Etudes Spatiales, Toulouse, 31401, FRANCE) ,  Baradat B. (Centre National d’Etudes Spatiales, Toulouse, 31401, FRANCE) ,  Chatry N. (TRAD, Labe`ge, 31670, FRANCE) ,  Dossat C. (TRAD, Labe`ge, 31670, FRANCE) ,  Garcia P. (TRAD, Labe`ge, 31670, FRANCE) ,  Pourrouquet P. (TRAD, Labe`ge, 31670, FRANCE)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： RADECS  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 宇宙応用において,部品は非常に低温で使用される可能性がある。著者らは,線量測定と放射線安全性に関する80Kの低い温度を持つ陽子下での試験に使用するために,CNESによって開発されたカスタム設計クライオスタットの能力を研究した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 線量測定 ,  クライオスタット ,  *陽子 ,  *キャラクタリゼーション ,  放射線安全 ,  *極低温 ,  *低温 ,  宇宙空間
準シソーラス用語： *電子素子 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  符号理論  (ND02030R)

タイトルに関連する用語 (6件)： 極低温 ,  陽子 ,  電子デバイス ,  特性評価 ,  セットアップ ,  評価