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J-GLOBAL ID：201902257156312251   整理番号：19A0704646

ネットワークオンチップ再使用試験アクセス機構のための試験モード中のネットワーク負荷解析【JST・京大機械翻訳】

Network Load Analysis During Test Mode for the Network-on-Chip Reused Test Access Mechanisms

著者 (1件)： Ansari Muhammad Adil (Electronic Engineering Department, Science & Technology, Quaid-e-Awam University College of Engineering, Pakistan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： iCCECE  ページ： 323-327  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： オンチップ相互接続は,チップの異なるモジュールから試験データを輸送するために再利用されてきた。同様に,試験アクセス機構(TAM)としてネットワークオンチップ(NoC)を再利用するためのいくつかの方式を提示した。異なる試験方式によってオンチップネットワークに異なる負荷があり,異なるエネルギー消費をもたらす。本研究では,入力/出力アクセスポイント(IO-AP)の数,タイムスロットの数,およびネットワークプロトコルコンプライアンス/デフィアンスに基づいて,そのようなテスト方式を分類した。さらに,ネットワーク負荷を,flit注入率の観点から,異なる試験方式に対して解析した。解析により,NoC布の開発は,試験操作の間,ネットワーク資源をより良く利用し,そして,ネットワーク負荷を減少させた。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： エネルギー消費 ,  相互接続 ,  *再利用 ,  *ネットワーク ,  端局
準シソーラス用語： ネットワーク資源 ,  タイムスロット ,  試験データ ,  *オンチップ ,  *情報へのアクセス ,  *ネットワークオンチップ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 移動通信  (ND08030H) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (6件)： ネットワークオンチップ ,  再使用 ,  試験 ,  アクセス ,  試験モード ,  解析