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J-GLOBAL ID:201902263284927080   整理番号:19A1414845

電気光学二重コム干渉法による1.2kmまでの長距離測定【JST・京大機械翻訳】

Long distance measurement up to 1.2 km by electro-optic dual-comb interferometry
著者 (8件):
資料名:
巻: 111  号: 25  ページ: 251901-251901-5  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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電気光学デュアルコム干渉法により,屋外ベースライン上で1.2kmまでの長距離測定を行った。狭い線幅をもつ連続レーザを位相変調することにより周波数コム対を開発し,信号発生器を介してわずかに異なる繰返し周波数をRbクロックに同期させた。RF電気コムを多波長ヘテロダイン干渉法により発生させることができ,したがって,一連の合成波長を得ることができ,その位相を用いて距離を決定することができる。参照値と比較して,実験結果は1180mの範囲で379μm以内の一致を示した。長時間実験では,Allan偏差は平均時間10sで20μm以下であり,平均時間が435mと1180mで350sを超えると600nm以下になる。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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半導体と絶縁体の電気伝導一般 
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