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J-GLOBAL ID：201902266083982773   整理番号：19A2569648

金属スリットプローブを用いたミリ波近接場走査顕微鏡のための圧縮センシング画像再構成【JST・京大機械翻訳】

Compressed Sensing Image Reconstruction For Millimeter-Wave Near-Field Scanning Microscopy Using a Metal Slit Probe

著者 (3件)： Nozokido Tatsuo (Graduate School of Science and Engineering for Research, University of Toyama, Japan) ,  Okano Hiroki (Graduate School of Science and Engineering for Research, University of Toyama, Japan) ,  Kudo Hiroyuki (Division of Information Engineering, Faculty of Engineering, Information and Systems, University of Tsukuba, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： IRMMW-THz  ページ： 1-2  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 投影データセットを低減するために必要な測定時間を可能にするミリ波近接場走査顕微鏡における二次元画像再構成のための圧縮センシング技術の使用について報告した。圧縮センシング画像再構成を用いて試料の電気応答異方性を画像化するために60GHzで行った実験は,完全な走査データのちょうど1/8が完全な画像再構成を可能にするために測定される必要があることを示した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 二次元 ,  *近接場 ,  *EHF波 ,  *走査 ,  *画像再構成 ,  異方性 ,  画像化 ,  *圧縮センシング
準シソーラス用語： 測定時間 ,  投影データ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  医用画像処理  (JE04020T)

タイトルに関連する用語 (7件)： スリット ,  プローブ ,  ミリ波 ,  近接場 ,  走査顕微鏡 ,  圧縮センシング ,  画像再構成