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J-GLOBAL ID：201902268491935077   整理番号：19A2699562

GaN FET抵抗性混合器を設計するためのRF,LOおよびIFインピーダンスを決定するための簡単で低コストな測定試験装置【JST・京大機械翻訳】

Simple and Low-Cost Measurement Test Setup to Determine the RF, LO and IF Impedances for Designing GaN FET Resistive Mixer

著者 (3件)： Perez-Wences C. (Centro de Investigacio ́n y Estudios Avanzados del I. P. N. Unidad Guadalajara, Zapopan, Jalisco, Me ́xico) ,  Loo-Yau J. R. (Centro de Investigacio ́n y Estudios Avanzados del I. P. N. Unidad Guadalajara, Zapopan, Jalisco, Me ́xico) ,  Moreno P. (Centro de Investigacio ́n y Estudios Avanzados del I. P. N. Unidad Guadalajara, Zapopan, Jalisco, Me ́xico)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： MWSCAS  ページ： 544-547  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,FET抵抗ミキサを設計するために必要なインピーダンスを測定できる簡単で低コストの試験装置を扱った。提案した方法は,RF,LOおよびIF周波数におけるインピーダンスを決定するために,1ポートSパラメータ測定および信号フロー理論とともに外部信号発生器を用いた。パッケージされたGaN FETを用いて2.4GHz LTE信号を0.1GHz IF信号にダウンコンバージョンするのに適した高線形FET抵抗ミキサを設計し,実験結果は45dBcよりも6.9dBとACLRの変換損失を示した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *窒化ガリウム ,  *試験装置 ,  *混合装置 ,  ポート ,  線形性 ,  信号発生器 ,  *インピーダンス ,  ダウンコンバージョン ,  Sパラメータ
準シソーラス用語： 変換損失 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (8件)： GaN ,  FET ,  抵抗性 ,  混合器 ,  設計 ,  RF ,  インピーダンス ,  試験装置