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J-GLOBAL ID：201902270852175693   整理番号：19A1477134

無開口型走査近接場光学顕微鏡法における5次高調波信号の偏光特性の測定

Measurement of polarization properties of fifth harmonic signals in apertureless-type scanning near-field optical microscopy

著者 (4件)： BABA Yuji (Nagaoka Univ. Technol., Niigata, JPN) ,  MATSUYA Iwao (Nagaoka Univ. Technol., Niigata, JPN) ,  NISHIKAWA Masami (Nagaoka Univ. Technol., Niigata, JPN) ,  ISHIBASHI Takayuki (Nagaoka Univ. Technol., Niigata, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 57  号： 9S2  ページ： 09TC04.1-09TC04.3  発行年： 2018年09月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *開放型 ,  *光学顕微鏡法 ,  *高調波 ,  *偏光性 ,  パターン形成 ,  クロム ,  金属薄膜 ,  共振周波数 ,  プローブ ,  消光比 ,  SN比 ,  空間分解能 ,  直線偏光 ,  *走査近接場光学顕微鏡法
準シソーラス用語： 開口型 ,  *走査近接場光顕微鏡法 ,  *偏光特性 ,  パターン化 ,  信号対雑音比

分類 (2件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S) ,  非線形光学  (BD05000T)

引用文献 (37件)：

• E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, and P. L. Finn, Appl. Phys. Lett. 61, 142 (1992).
• T. J. Silva, S. Schultz, and D. Weller, Appl. Phys. Lett. 65, 658 (1994).
• M. W. J. Prins, R. H. M. Groeneveld, D. L. Abraham, H. van Kempen, and H. W. van Kesteren, Appl. Phys. Lett. 66, 1141 (1995).
• C. Durkan, I. V. Shvets, and J. C. Lodder, Appl. Phys. Lett. 70, 1323 (1997).
• P. Fumagalli, A. Rosenberger, G. Eggers, A. Münnemann, N. Held, and G. Güntherodt, Appl. Phys. Lett. 72, 2803 (1998).

タイトルに関連する用語 (4件)： 開口型 ,  走査近接場光学顕微鏡法 ,  高調波 ,  偏光特性