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J-GLOBAL ID：201902279710819266   整理番号：19A0512024

SFQ回路の試験可能性のための設計【JST・京大機械翻訳】

Design for Testability of SFQ Circuits

著者 (2件)： Krylov Gleb (Department of Electrical and Computer Engineering, University of Rochester, Rochester, USA) ,  Friedman Eby G. (Department of Electrical and Computer Engineering, University of Rochester, Rochester, USA)
資料名： IEEE Transactions on Applied Superconductivity  (IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻： 27  号： 8  ページ： ROMBUNNO.1302307.1-7  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0177A  ISSN： 1051-8223  CODEN： ITASE9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 超伝導単一磁束量子(SFQ)論理における増強された可試験性のための試験点挿入とセット/スキャン技術をここで提案した。テストポイント挿入は,機能の大部分を維持しながら,セット/スキャンチェーンのオーバーヘッドを減少させる。コストの高い(Josephson接合数による)SFQマルチプレクサを,合併者とブロッキングゲートで置き換える複数の方法を提案した。マルチプレクサ制御信号を,機能的および試験経路の両方に対して,ゲート付きクロック信号または分離バイアスネットワークで置き換えた。クロックブロッキングゲートまたは電流制御Josephson伝送線路セグメントを用いて,望ましくないデータ入力を可能にした。64ビットレジスタにおけるテストポイント挿入のためのロックされたブロッキングゲートは,マルチプレクサと比較して35%少ないJosephson接合を必要とする。この利点は電流制御ブロッキングゲートに対してさらに増加する。セット/スキャンチェーンとテストポイント挿入技術を,いくつかのSFQ回路に適用して,誤り特性を評価し,SFQ互換メモリシステムの内蔵自己テストを提供した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電流制御 ,  チェーン ,  同期信号 ,  伝送線路 ,  クロック ,  Josephson接合 ,  バイアス ,  超伝導 ,  レジスタ ,  *多重装置 ,  走査 ,  ブロッキング ,  ネットワーク
準シソーラス用語： オーバヘッド ,  単一磁束量子 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： 音声処理  (JE05000E) ,  信号理論  (ND02020G) ,  半導体集積回路  (NC03162T) ,  パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (3件)： SFQ回路 ,  試験可能性 ,  設計