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J-GLOBAL ID：201902282677283690   整理番号：19A2109784

マイクロ月面探査機プロジェクトHAKUTOの耐放射線性保証

Radiation Hardness Assurance for Micro Lunar Rover Project: HAKUTO

著者 (3件)： OIKAWA T. (Tohoku Univ.) ,  TANAKA T. (ispace inc.) ,  YOSHIDA K. (Tohoku Univ.)
資料名： CYRIC Annual Report (Web)  (CYRIC Annual Report (Web))
巻： 2016-2017  ページ： 78-81 (WEB ONLY)  発行年： 2017年 
JST資料番号： U1695A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ・月面探査機プロジェクトHAKUTOの目的は,月に着陸し,500メートル以上を旅し,高解像度ビデオと画像を地球に送り返すこと。
・競合他社の中で,チームHAKUTOは唯一の日本チームであり,ローバー開発の最終段階。
・市販のハードウェア(COTS)部品の多くは,過酷な宇宙条件下で信頼性を確保するために集中的な試験と検査を実施することが必要。
・試験では,短時間で大量の放射線を蓄積し,通常はミッション要件をはるかに上回る線量レベルにさらすことにより,COTSハードウェアの劣化を確認することが必要。
・試験は,陽子ビームを使用した電子デバイスのハードウェアに及ぼす単一事象効果(SEE)に焦点を当て,COTSデバイスが陽子誘起SEEからシステムを回復できることを実証。

シソーラス用語： *宇宙探査機 ,  *耐放射線性 ,  ハードウェア ,  *陽子ビーム ,  固体素子 ,  放射線 ,  劣化 ,  照射損傷
準シソーラス用語： 月面探査機 ,  電子デバイス ,  放射線損傷

分類 (2件)： 放射線による構造と物性の変化一般  (BK16121W) ,  宇宙飛行体  (QK08000Y)

引用文献 (5件)：

• Walker, J., Britton N., Yoshida, K., Shimizu, T., Burtz, L. B., and Pala, A.: Field and Services Robotic, 13 (2016), pp. 313-330.
• Hamiter, L.: The History of Space Quality EEE Parts in the United States, ESA Electronic Components Conference, 1991.
• Avery, K., Finchel, J., and Mee, J.: Total Dose Test Results for Cube- Sat Electronics, 2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop, 2011 pp.1-8.
• Nicolaidis, M.: Soft Errors in Modern Electronic Systems, Springer Publishing Company, Incorporated, 2010, pp. 27-54.
• Takuto OIKAWA, Toshiki TANAKA, Yuto SUEBE, Kentaro UNO, Hugo ZULIANI, Louis J. BURTZ, Kazuya YOSHIDA, The 31st ISTS Special Issue of Transaction of JSASS, Aerospace Technology Japan

タイトルに関連する用語 (4件)： 月面探査機 ,  プロジェクト ,  耐放射線性 ,  保証