Gupta Bhaawan について
ELyTMaX, UMI 3757, CNRS - Universite de Lyon - Tohoku University, International Joint Unit, Tohoku University, Sendai, Japan について
Gupta Bhaawan について
Univ Lyon, INSA-Lyon, LGEF, EA682, F-69621, Villeurbanne, France について
Gupta Bhaawan について
Institute of Fluid Science, Tohoku University, Sendai, Japan について
Uchimoto Tetsuya について
ELyTMaX, UMI 3757, CNRS - Universite de Lyon - Tohoku University, International Joint Unit, Tohoku University, Sendai, Japan について
Uchimoto Tetsuya について
Institute of Fluid Science, Tohoku University, Sendai, Japan について
Ducharne Benjamin について
Univ Lyon, INSA-Lyon, LGEF, EA682, F-69621, Villeurbanne, France について
Sebald Gael について
Institute of Fluid Science, Tohoku University, Sendai, Japan について
Miyazaki Takamichi について
Instrumental Analysis Group, Graduate School of Engineering, Tohoku University, Sendai, Japan について
Takagi Toshiyuki について
ELyTMaX, UMI 3757, CNRS - Universite de Lyon - Tohoku University, International Joint Unit, Tohoku University, Sendai, Japan について
Takagi Toshiyuki について
Institute of Fluid Science, Tohoku University, Sendai, Japan について
NDT & E International について
走査 について
再結晶 について
クリープ試験 について
クリープ について
透磁率 について
微細構造 について
時効 について
鋼 について
後方散乱 について
非破壊検査 について
回折 について
磁気 について
磁気インピーダンス について
機械的性質 について
EBSD について
非破壊評価 について
非破壊試験 について
磁気増分透磁率 について
高クロム鋼 について
クリープ劣化 について
電磁検査 について
非破壊試験 について
時効 について
熱処理 について
Mo について
クリープ試験 について
試料 について
磁気 について
透磁率 について
非破壊評価 について