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J-GLOBAL ID:201902287209749826   整理番号:19A1413997

Ge量子井戸における低密度2次元正孔の有効g因子【JST・京大機械翻訳】

Effective g factor of low-density two-dimensional holes in a Ge quantum well
著者 (6件):
資料名:
巻: 111  号: 10  ページ: 102108-102108-4  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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Ge量子井戸中の低密度二次元正孔の有効g因子の測定を報告した。Shubnikov-de Haas振動の温度依存性を用いて,試料表面に垂直な磁場中で有効g因子を抽出した。1.4×10~10cm~-2~1.4×10~11cm-2の密度範囲において,~13~28の範囲の有効g因子の非常に大きな値が観測された。磁場を試料表面に平行に配向させると,有効g因子は完全スピン分極を示す磁気抵抗データの突起から得られる。後者の配向において,1.5×10~10cm~2~2×10~10cm-2の密度範囲で小さな有効g因子~1.3~1.4を測定した。この非常に強い異方性は,InGaAsとGaSbのような他の2D正孔系における理論的予測と以前の測定と一致した。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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半導体のルミネセンス  ,  13-15族化合物を含む半導体-半導体接合 

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