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J-GLOBAL ID:201902287758470605   整理番号:19A2090821

低エネルギーXeイオンビームによる衛星成分の損傷を推定するためのECRISベースのイオンビーム照射システム【JST・京大機械翻訳】

ECRIS Based Ion Beam Irradiation System for Estimating Damage of Satellites Components by Low Energy Xe Ion Beams
著者 (9件):
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巻: 2018  号: IIT  ページ: 203-206  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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Xeイオンビームを衛星搭載電気推進に用いた。衛星は,数十年にわたりしばしば長い運転時間を持っている。次に,衛星成分を照射し,低エネルギーXeイオンビーム(数百eV1keV)によりスパッタした。しかし,それらのエネルギー領域を有する衛星材料に対する十分な実験的スパッタリングデータは存在しない。各Xe+イオンのデータを実験的に調べた。実用的な照射時間で十分な線量を得るために,イオンビームは高エネルギーで抽出し,照射直前に減速する必要がある。イオンビーム照射システム(IBIS)を構築し,イオンビームを減速し,照射することができた。イオンビーム電流をほとんど減少せずに約100~200eVまで減速することに成功した。これらの結果は,低エネルギー照射で十分な線量を得ることができることを示している。近い将来衛星材料に関する実験を行った。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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電子航法一般  ,  アンテナ 

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