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J-GLOBAL ID：201902289215508902   整理番号：19A2180013

低THz領域におけるその場材料特性化のためのコンパクトな測定装置【JST・京大機械翻訳】

A Compact Measurement Setup for In-Situ Material Characterization in the Lower THz Range

著者 (6件)： Barowski Jan (Institute of Microwave Systems Ruhr-University Bochum, Bochum, 44801, Germany) ,  Jebramcik Jochen (Institute of Microwave Systems Ruhr-University Bochum, Bochum, 44801, Germany) ,  Alawneh Isam (Institute of Microwave Systems Ruhr-University Bochum, Bochum, 44801, Germany) ,  Sheikh Fawad (Institute of Digital Signal Processing University of Duisburg-Essen, Duisburg, 47057, Germany) ,  Kaiser Thomas (Institute of Digital Signal Processing University of Duisburg-Essen, Duisburg, 47057, Germany) ,  Rolfes Ilona (Institute of Microwave Systems Ruhr-University Bochum, Bochum, 44801, Germany)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： IWMTS  ページ： 1-5  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 周波数変調連続波レーダシステムは非常に大きな動的測定範囲を提供するが,同時に非常にコンパクトでコスト効率が良い。これにより,FMCWセンサは,ベクトルネットワークアナライザのような高価な測定装置に対する実行可能な代替手段である。VNAドメインからキャリブレーション技術とアルゴリズムを適用して,それらは非常に高い精度で材料を特性化するために使用することもできる。同時に,短い測定時間は,モバイル高精度測定装置におけるそれらの利用を可能にした。本論文では,容易に較正できる移動装置を,例えばチャネルモデルのための現場材料パラメータ推定とデータ収集のために使用できるように提示した。この目的のために,200GHzから250GHzまでの低THz範囲のSiGeレーダシステムを用いた。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *キャラクタリゼーション ,  センサ ,  データ収集 ,  アルゴリズム ,  携帯電話 ,  パラメータ推定 ,  *計測器 ,  チャネル
準シソーラス用語： シリコンゲルマニウム ,  測定時間 ,  ベクトルネットワークアナライザ ,  コスト効率 ,  動的計測 ,  周波数変調連続波レーダ ,  *材料特性 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (2件)： 材料特性 ,  測定装置