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J-GLOBAL ID:201902291081365899   整理番号:19A1408180

半導体単層カーボンナノチューブに基づく耐放射線性相補集積回路【JST・京大機械翻訳】

Radiation-Hard Complementary Integrated Circuits Based on Semiconducting Single-Walled Carbon Nanotubes
著者 (9件):
資料名:
巻: 11  号:ページ: 2992-3000  発行年: 2017年03月 
JST資料番号: W2326A  ISSN: 1936-0851  CODEN: ANCAC3  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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半導体単層カーボンナノチューブ(SWCNTs)に基づく集積回路素子の複雑な実証は,次世代エレクトロニクスでの使用のためのこの技術の成熟をマークしている。特に,有機材料は,安定なSWCNTベースのレールからレールへの低電力相補型金属-酸化物-半導体(CMOS)論理回路を可能にするドーパントとカプセル化層として最近活用されている。極端な環境におけるこの技術の限界を調べるために,ここでは,有機ドーピングとカプセル化層を用いるエンハンスモードSWCNT-CMOSインバータにおける全イオン化線量(TID)効果を研究した。素子輸送特性の発展の詳細を,その場及びオペランド測定により明らかにし,静的電力散逸の一桁以上の劣化をもつCMOSシステムのより多くのTID敏感成分としてn型トランジスタを同定した。デバイスの安定性をさらに改善するために,放射線硬化法を検討し,SWNCT-CMOS回路が動的バイアス動作下でTID困難であるという結果を得た。全体として,本研究では,SWCNTが放射線-ハード集積回路に使用できる条件を明らかにし,次世代衛星と宇宙応用に対する大きな可能性を示した。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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トランジスタ  ,  炭素とその化合物 
タイトルに関連する用語 (3件):
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