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J-GLOBAL ID:201902291405048617   整理番号:19A2337946

ゲルマン電気二重層トランジスタの両極性トランジスタ作用【JST・京大機械翻訳】

Ambipolar transistor action of germanane electric double layer transistor
著者 (5件):
資料名:
巻: 115  号: 12  ページ: 122101-122101-5  発行年: 2019年 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ゲルマニウム(GeH)はゲルマニウムの水素終端層状結晶である。Ge(111)基板上にGeH薄膜上に電気二重層トランジスタ(EDLT)を作製し,その電子特性を調べた。EDLTは240Kで両極性移動特性を示した。ゼロゲートバイアス(V_G=0V)でのシート抵抗R_シートは100K以下で1MΩを超え,絶縁挙動を示した。V_G=-2V(正孔蓄積)に対して,10kΩまでのR_シートの漸進的な増加が,温度を40Kに下げると,すなわち,半導体性または弱絶縁性になることが分かった。顕著に,V_G=1V(電子蓄積)のR_シートは,温度を40Kに下げると3kΩまで低下し,金属伝導を示した。Hall効果測定により,V_G>1V(V_G<-1V)に対して電子(正孔)の蓄積を確認した。温度の低下と共に増加する電子と正孔のHall移動度は,120Kでそれぞれ6500cm~2V~-1s-1と570cm~2V~-1s-1であった。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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半導体結晶の電気伝導 
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