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J-GLOBAL ID：201902291407762421   整理番号：19A1802552

走査透過Electron顕微鏡による局所電磁場構造の直接可視化【JST・京大機械翻訳】

Direct Visualization of Local Electromagnetic Field Structures by Scanning Transmission Electron Microscopy

著者 (10件)： Shibata Naoya (Institute of Engineering Innovation, School of Engineering, The University of Tokyo, Japan) ,  Shibata Naoya (Nanostructures Research Laboratory, Japan Fine Ceramic Center, Japan) ,  Findlay Scott D. (School of Physics and Astronomy, Monash University, Victoria, Australia) ,  Matsumoto Takao (Institute of Engineering Innovation, School of Engineering, The University of Tokyo, Japan) ,  Kohno Yuji (JEOL Ltd., Japan) ,  Seki Takehito (Institute of Engineering Innovation, School of Engineering, The University of Tokyo, Japan) ,  Sanchez-Santolino Gabriel (Institute of Engineering Innovation, School of Engineering, The University of Tokyo, Japan) ,  Sanchez-Santolino Gabriel (Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid, Consejo Superior de Investigaciones Cientificas ICMM-CSIC, Spain) ,  Ikuhara Yuichi (Institute of Engineering Innovation, School of Engineering, The University of Tokyo, Japan) ,  Ikuhara Yuichi (Nanostructures Research Laboratory, Japan Fine Ceramic Center, Japan)
資料名： Accounts of Chemical Research  (Accounts of Chemical Research)
巻： 50  号： 7  ページ： 1502-1512  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0966A  ISSN： 0001-4842  CODEN： ACHRE4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 材料とデバイスの機能特性は,それらの内部に形成された電磁場構造,特にナノ界面と表面領域において,このような構造は電子,正孔およびイオンの動力学と強く関連しているので,決定的に決定される。現代の材料やデバイスにおける多くのエキゾチックな性質の基本的な起源を理解するためには,このような欠陥領域における局所的な電磁場構造を原子次元まで直接的に特性化することが不可欠である。近年,サブオングストローム空間分解能を有する収差補正走査透過型電子顕微鏡(STEM)用の高速領域検出器の開発における急速な進歩は,非常に高分解能でこのような電磁場構造を直接画像化する新しい可能性を開いた。この計算において,収差補正STEMに対する微分位相コントラスト(DPC)顕微鏡の最近の開発と多くの材料問題への応用を概観した。近年,検出器面を16のセグメントに分割し,検出器面上の透過/散乱電子の位置と角度に敏感な16のSTEM画像の同時イメージングを可能にするセグメント型STEM検出器を開発した。これらの検出器は原子分解能イメージング能力も有する。これらのセグメント型STEM検出器を用いて,DPC STEMイメージングは,実空間における材料とデバイスにおける局所電磁場構造を直接画像化するための非常に強力なツールであることを示した。例えば,DPC STEMは,GaAs半導体におけるp-n接合を横切る急激な電位変化による局所電場変化を明確に可視化できる。これは,通常の焦点内明視野または環状型暗視野STEMイメージングモードでは観測できない。DPC STEMは磁気領域やスキルミオンのような磁性材料の磁場構造のイメージングにも非常に有効である。さらに,電磁場構造のリアルタイムイメージングは,非常に高速なデータ収集,処理,および再構成アルゴリズムを通して実現することができる。サブオングストロームサイズの電子プローブを用いた原子分解能イメージングのためにDPC STEMを用いると,原子種,局所化学結合及び結合原子間の電荷再分布に関する情報を持つ原子核と周囲電子雲の間の原子の内部の原子電場を直接観測できることを示した。この可能性は,原子及びナノ構造を直接可視化するための代替法を開く可能性があり,それは,原子内及び原子間電子構造を反映する電磁場の実体として原子を見ることである。この計算において,実際の材料とデバイス研究におけるいくつかの応用とともに,収差補正DPC STEMの現状を強調した。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 画像 ,  *走査 ,  電子顕微鏡観察 ,  電場 ,  高速度 ,  収差補正 ,  キャラクタリゼーション ,  空間分解能 ,  ナノ構造 ,  検出器 ,  高分解能 ,  *電磁場 ,  半導体 ,  *可視化 ,  画像処理
準シソーラス用語： 画像化 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 分子構造と性質の実験的研究  (CB01020I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 走査 ,  透過 ,  顕微鏡 ,  電磁場 ,  可視化