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J-GLOBAL ID：201902291684857154   整理番号：19A0518443

その場プロセス制御ポテンシャルによる印刷エレクトロニクス製造のためのその場特徴のアンサンブルモデリング【JST・京大機械翻訳】

Ensemble Modeling of In Situ Features for Printed Electronics Manufacturing With In Situ Process Control Potential

著者 (4件)： Li Yifu (Grado Department of Industrial and Systems Engineering, Virginia Tech, Blacksburg, VA, USA) ,  Mohan Karuniya (Grado Department of Industrial and Systems Engineering, Virginia Tech, Blacksburg, VA, USA) ,  Sun Hongyue (Grado Department of Industrial and Systems Engineering, Virginia Tech, Blacksburg, VA, USA) ,  Jin Ran (Grado Department of Industrial and Systems Engineering, Virginia Tech, Blacksburg, VA, USA)
資料名： IEEE Robotics and Automation Letters  (IEEE Robotics and Automation Letters)
巻： 2  号： 4  ページ： 1864-1870  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2448A  ISSN： 2377-3766  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： エアロゾルジェット印刷(AJP)は,微細な特徴を持つ種々の材料を印刷できるダイレクトライトベースのプリントエレクトロニクスプロセスである。すなわち,微細ピッチ電子応用のための高速プロトタイピング材料について,「Proc.IEEE61st Electron」,Busena Vista,FL,USA,2011,p.1211~1216)である。これは,従来の半導体製造における複雑なマスキングプロセスを排除し,柔軟なエレクトロニクス設計を可能にし,製造コストを低減する。しかしながら,AJPプロセスの品質管理は,主に品質問題の潜在的な根本原因の理解が不足しているため,依然として困難な問題である。プロセス設定変数,その場特徴,およびAJPプロセスにおける製品品質の間に複雑な相互作用がある。本レターでは,集合モデリング戦略を提案し,その場特徴に及ぼすプロセス設定変数の影響を定量化し,2レベル階層的方法における製品品質に及ぼすその場特徴の影響を定量化した。プロセス設定変数に対する応答としての重要なin situ特徴を同定することにより,継手モデル推定問題における製品品質に対する重要な予測子と同様に,提案モデルは,変動低減と欠陥軽減のためのその場プロセス制御を可能にする階層的変数関係を持つ。提案した方法の利点を実証するために,実際の事例研究を検討した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *プロセス制御 ,  *印刷 ,  製造原価 ,  マスキング ,  照明 ,  事例研究 ,  品質 ,  *電子技術 ,  相互作用 ,  *モデリング ,  品質管理 ,  製品品質
準シソーラス用語： 半導体製造 ,  Electron ,  ラピッドプロトタイピング , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： パターン認識  (JE07000S) ,  人工知能  (JE08000Z)

タイトルに関連する用語 (5件)： プロセス制御 ,  ポテンシャル ,  エレクトロニクス ,  アンサンブル ,  モデリング