特許
J-GLOBAL ID:201903003833871570
処理装置、CADモデルの特徴部分検出方法及びプログラム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (9件):
大森 純一
, 高橋 満
, 中村 哲平
, 折居 章
, 関根 正好
, 金子 彩子
, 金山 慎太郎
, 千葉 絢子
, 白鹿 智久
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-071823
公開番号(公開出願番号):特開2019-185186
出願日: 2018年04月03日
公開日(公表日): 2019年10月24日
要約:
【課題】物体形状の特徴部分を適切に顕在化すること。【解決手段】この技術は、CADモデルの表面を格子網に離散化し、離散点によって囲まれる面を並べることでCADモデルの物体形状を再現し、各面を各面の法線方向に移動させることで、CADモデルの物体形状の膨張モデル又は収縮モデルを生成し、膨張モデル又は収縮モデルの表面に一様な電荷が帯電しているものとみなし、境界要素法による表面上の静電場に対するラプラス方程式を解くことで膨張モデル又は収縮モデルの表面の電位分布を求め、求められた電位分布に基づき物体形状の特徴部分を検出する。【選択図】図7
請求項(抜粋):
CADモデルの表面を格子網に離散化し、離散点によって囲まれる面を並べることで前記CADモデルの物体形状を表現したデータから、各面を各面の法線方向に移動させることで、前記CADモデルの物体形状の膨張モデル又は収縮モデルを生成し、
前記膨張モデル又は収縮モデルの表面に一様な電荷が帯電しているものとみなし、境界要素法による表面上の静電場に対するラプラス方程式を解くことで前記膨張モデル又は収縮モデルの表面の電位分布を求め、
前記求められた電位分布に基づき前記物体形状の特徴部分を検出する
特徴部分検出部
を具備する処理装置。
IPC (1件):
FI (3件):
G06F17/50 628Z
, G06F17/50 612H
, G06F17/50 622C
Fターム (6件):
5B046AA04
, 5B046DA08
, 5B046FA02
, 5B046FA18
, 5B046JA01
, 5B046JA10
引用特許:
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