特許
J-GLOBAL ID:201903003896943741
波長変換部材の検査方法及びその検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
城村 邦彦
, 熊野 剛
, 友廣 真一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-111754
公開番号(公開出願番号):特開2019-007951
出願日: 2018年06月12日
公開日(公表日): 2019年01月17日
要約:
【課題】蛍光体を有する波長変換部材の内部欠陥の検査精度を向上させる。【解決手段】波長変換部材としての蛍光体含有ガラス板Gの内部欠陥を検査する方法であって、照射部1から蛍光体含有ガラス板Gに対して、495nm超の波長の検査光Lを照射しながら、撮像部2で蛍光体含有ガラス板Gを撮像する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
蛍光体を有する波長変換部材の内部欠陥を検査する方法であって、
照射部から前記波長変換部材に対して波長が495nm超の検査光を照射しながら、撮像部で前記波長変換部材を撮像することを特徴とする波長変換部材の検査方法。
IPC (2件):
G01N 21/896
, G01N 21/892
FI (2件):
G01N21/896
, G01N21/892 Z
Fターム (13件):
2G051AA42
, 2G051AB01
, 2G051AB06
, 2G051BA04
, 2G051BA10
, 2G051BB07
, 2G051CA03
, 2G051CA04
, 2G051CB02
, 2G051DA06
, 2G051EA14
, 2G051EB01
, 2G051EC01
引用特許:
前のページに戻る