特許
J-GLOBAL ID：201903009827532789

錆評価撮影装置、錆評価システム、及び錆評価方法

発明者：
亀川 博文

亀川 博文 について

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高嶋 豊

高嶋 豊 について

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小谷 信司

小谷 信司 について

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小笠原 寛望

小笠原 寛望 について


出願人/特許権者：
株式会社横河ブリッジ

株式会社横河ブリッジ について

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国立大学法人山梨大学

国立大学法人山梨大学 について


代理人 (1件)： 特許業務法人 武政国際特許商標事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-097068
公開番号（公開出願番号）：特開2019-203706
出願日： 2018年05月21日
公開日（公表日）： 2019年11月28日
要約：
【課題】客観的な錆の評価を実施することで点検者によらず安定した点検結果を得ることができる技術を提供する。【解決手段】あらかじめ錆の程度に応じて段階的に設定された2以上の錆階級に基づいて対象物の錆の程度を評価するシステムであって、錆指標値計測手段と錆階級評価手段を備えたものである。このうち指標値計測手段は、対象物を撮影した対象物画像に基づいて対象物の計測錆指標値を求める手段であり、錆階級評価手段206は、対象物の計測錆指標値と錆階級ごとにあらかじめ設定された基準錆指標値を照らし合わせることで対象物の錆階級を決定する手段である。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
対象物の錆の程度を評価するための画像を取得する錆評価撮影装置であって、 本体壁と、該本体壁内に形成される内部空間と、開口部と、を具備する函体と、 前記内部空間に設置され、前記開口部を通じて前記対象物を撮影し得る画像取得手段と、 前記内部空間に設置された照明方向が異なる2以上の照明手段と、 2以上の前記照明手段が順に照明するように制御するとともに、それぞれの該照明手段が照明するたびに前記画像取得手段が画像を取得するように制御する制御手段と、を備え、 前記対象物によって前記開口部を塞ぐと、前記内部空間が暗室状態になる、 ことを特徴とする撮影装置。
IPC (3件)：
G01N 21/27 ,  E01D 22/00 ,  E01D 19/10
FI (3件)：
G01N21/27 A ,  E01D22/00 A ,  E01D19/10
Fターム (20件)：
2D059GG21 ,  2D059GG39 ,  2G050AA01 ,  2G050BA05 ,  2G050EB07 ,  2G050EC01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB08 ,  2G059EE02 ,  2G059EE13 ,  2G059FF01 ,  2G059FF06 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK04 ,  2G059MM02 ,  2G059MM05 ,  2G059NN01 ,  2G059PP06
引用特許：
審査官引用 (4件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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