特許

J-GLOBAL ID：201903010258126724

解析装置、解析方法、およびプログラム

発明者： 加藤 博司
出願人/特許権者： 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構
代理人 (5件)： 棚井 澄雄 ,  橋本 宏之 ,  山口 洋 ,  沖田 壮男 ,  荒 則彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-113073
公開番号（公開出願番号）：特開2019-215750
出願日： 2018年06月13日
公開日（公表日）： 2019年12月19日
要約：

【課題】機器を効率良く設計することができる解析装置、解析方法、およびプログラムを提供すること。【解決手段】解析装置は、複数のパラメータを用いて対象の事象を解析する解析モデルによって解析された解析結果を取得する取得部と、ベイズ最適化手法により、前記取得部により取得された解析結果に基づいて、前記対象の事象が前記解析モデルによって解析されたときの前記複数のパラメータの組み合わせを評価し、前記評価した前記複数のパラメータの組み合わせごとの評価結果に基づいて、前記複数のパラメータの組み合わせの中から、前記解析モデルのパラメータの組み合わせを決定する最適化処理部と、を備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

複数のパラメータを用いて対象の事象を解析する解析モデルによって解析された解析結果を取得する取得部と、 ベイズ最適化手法により、前記取得部により取得された解析結果に基づいて、前記対象の事象が前記解析モデルによって解析されたときの前記複数のパラメータの組み合わせを評価し、前記評価した前記複数のパラメータの組み合わせごとの評価結果に基づいて、前記複数のパラメータの組み合わせの中から、前記解析モデルのパラメータの組み合わせを決定する最適化処理部と、 を備える解析装置。

IPC (4件)：

G06F 17/50 ,  G16Z 99/00 ,  G06N 7/00 ,  G06N 99/00

FI (5件)：

G06F17/50 604A ,  G06F19/00 100 ,  G06F17/50 612H ,  G06N7/00 ,  G06N99/00 180

Fターム (6件)：

5B046AA04 ,  5B046GA01 ,  5B046HA05 ,  5B046JA07 ,  5B046KA05 ,  5L049DD01