特許

J-GLOBAL ID：201903010672375914

シンチレータの発光減衰時定数の測定方法、その測定装置およびシンチレータの賦活材濃度の測定方法

発明者： 石川 正純 ,  小川原 亮
出願人/特許権者： 国立大学法人北海道大学
代理人 (1件)： 特許業務法人YKI国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-227688
公開番号（公開出願番号）：特開2019-095402
出願日： 2017年11月28日
公開日（公表日）： 2019年06月20日
要約：

【課題】シンチレータの発光減衰時定数を比較的簡易に測定する。【解決手段】シンチレータの発光減衰時定数の測定方法であって、シンチレータに放射線が入射するイベントによって、シンチレータから出力される光を光電変換して電気信号に得、得られた1つのイベントについての電気信号の電圧波形におけるピーク値(Vp)と積分値(Q)との比(Vp/Q)を算出し、ピーク値と積分値との比(Vp/Q)と、シンチレータの発光減衰時定数との関係を利用して、算出されたVp/Qからシンチレータの発光減衰時定数を決定する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

シンチレータの発光減衰時定数の測定方法であって、 シンチレータに放射線が入射するイベントによって、シンチレータから出力される光を光電変換して電気信号に得、 得られた1つのイベントについての電気信号の電圧波形におけるピーク値(Vp)と積分値(Q)との比(Vp/Q)を算出し、 予め得られている、ピーク値と積分値との比(Vp/Q)と、シンチレータの発光減衰時定数との関係を利用して、算出されたVp/Qからシンチレータの発光減衰時定数を決定する、 シンチレータの発光減衰時定数の測定方法。

IPC (1件)：

G01T 1/20

FI (1件)：

G01T1/20 J

Fターム (7件)：

2G188CC15 ,  2G188CC21 ,  2G188DD22 ,  2G188DD45 ,  2G188EE07 ,  2G188EE25 ,  2G188FF11

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 蛍光材料及びその製造方法、シンチレータ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2008-073960   出願人：日立金属株式会社