特許
J-GLOBAL ID：201903015425347241

光検出と測距のための装置および方法

発明者：
ヴォイチェフ クドラ

ヴォイチェフ クドラ について

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アンドレ ロジェ

アンドレ ロジェ について

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ヘンドリキュス ファン リーロプ

ヘンドリキュス ファン リーロプ について

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ヤープ フェルヘッヘン

ヤープ フェルヘッヘン について

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ロマン イニアス

ロマン イニアス について


出願人/特許権者：
インフィニオン テクノロジーズ アクチエンゲゼルシャフト

インフィニオン テクノロジーズ アクチエンゲゼルシャフト について


代理人 (5件)： アインゼル・フェリックス=ラインハルト ,  森田 拓 ,  前川 純一 ,  二宮 浩康 ,  上島 類
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-182095
公開番号（公開出願番号）：特開2019-066474
出願日： 2018年09月27日
公開日（公表日）： 2019年04月25日
要約：
【課題】光検出と測距のための装置が提供される。【解決手段】装置は、回転軸の周りで振動するように構成される反射面と、各々がそれぞれの光ビームを、光学系を介して反射面上に制御可能に放射するように構成される複数の光源と、を含む。さらに、装置は、複数の光源の放射時間を制御するように構成されるコントローラを含み、反射面は、第1の測定のためにビーム方向の第1のシーケンスに従って、かつ、次の第2の測定のためにビーム方向の第2のシーケンスに従って、複数の光ビームを環境に放射する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光検出と測距のための装置(100)であって、前記装置(100)は、 回転軸(120)の周りで振動するように構成される反射面(110)と、 各々がそれぞれの光ビームを、光学系(140)を介して前記反射面(110)上に制御可能に放射するように構成される複数の光源(130)と、 前記複数の光源(130)の放射時間を制御するように構成されるコントローラ(150)と、 を備え、 前記反射面(110)は、第1の測定のためにビーム方向の第1のシーケンスに従って、かつ、次の第2の測定のためにビーム方向の第2のシーケンスに従って、複数の光ビームを環境に放射する、 装置(100)。
IPC (1件)：
G01S 7/481
FI (1件)：
G01S7/481 A
Fターム (15件)：
5J084AA05 ,  5J084AC02 ,  5J084AD01 ,  5J084BA03 ,  5J084BA05 ,  5J084BA20 ,  5J084BA40 ,  5J084BA48 ,  5J084BB28 ,  5J084CA03 ,  5J084CA31 ,  5J084CA32 ,  5J084CA70 ,  5J084EA01 ,  5J084EA07
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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