特許
J-GLOBAL ID:201903016987829474

電気回路の評価方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人 佐野特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-124404
公開番号(公開出願番号):特開2015-001382
特許番号:特許第6541293号
出願日: 2013年06月13日
公開日(公表日): 2015年01月05日
請求項(抜粋):
【請求項1】車載用LSIを含む被試験デバイスを用いたDPI[direct RF power injection]テストにより、前記被試験デバイスが誤動作を起こす限界のノイズ信号の大きさを前記被試験デバイスへの注入電力で表した誤動作電力周波数特性を求める第1ステップと、 前記誤動作電力周波数特性、前記被試験デバイスの等価回路、及び、前記車載用LSIの等価回路に基づいて、前記車載用LSIが誤動作を起こす限界のノイズ信号の大きさを前記車載用LSIの信号入力端子に流れる端子電流で表した誤動作電流周波数特性及び前記車載用LSIが誤動作を起こす限界のノイズ信号の大きさを前記車載用LSIの前記信号入力端子に現れる端子電圧で表した誤動作電圧周波数特性の双方をそれぞれ求める第2ステップと、 を有し、 前記第2ステップでは、 前記車載用LSIの端子電流I_LSI及び端子電圧V_LSIを、それぞれ、前記被試験デバイスへの注入電力Piの関数として表した、 I_LSI=fI(√(Pi×200)) ... (1) V_LSI=fV(√(Pi×200)) ... (2) なる数式に、前記車載用LSIが誤動作を起こす限界の前記注入電力Piを代入することにより、前記ノイズ信号の発振周波数毎に、前記車載用LSIが誤動作を起こす限界の端子電流I_LSI及び端子電圧V_LSIを得る車載用LSIの評価方法であって、 前記車載用LSIを含む測定対象回路ユニットまたはその模擬ユニットに対するイミュニティテストとして、放射イミュニティテスト、TEMCELL[transverse electromagnetic cell]テスト、または、BCI[bulk current injection]テストを行なったときに、前記車載用LSIの前記信号入力端子に到達して流れる電流を表わす到達電流周波数特性及び前記車載用LSIの前記信号入力端子に到達して現れる電圧を表わす到達電圧周波数特性をそれぞれ前記誤動作電流周波数特性及び前記誤動作電圧周波数特性と比較するステップをさらに有することを特徴とする車載用LSIの評価方法。
IPC (3件):
G01R 31/30 ( 200 6.01) ,  G01R 31/00 ( 200 6.01) ,  G01R 31/28 ( 200 6.01)
FI (3件):
G01R 31/30 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/28 F
引用特許:
審査官引用 (1件)
引用文献:
審査官引用 (5件)
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