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J-GLOBAL ID：202002211143605942   整理番号：20A2083457

市販USB ICソフト故障感度測定法と傾向解析【JST・京大機械翻訳】

Commercial USB IC Soft-Failure Sensitivity Measurement Method and Trend Analysis

著者 (8件)： Hua Runbing (EMC Laboratory, Missouri University of Science and Technology,Rolla,MO,USA) ,  Hoseini Omid (EMC Laboratory, Missouri University of Science and Technology,Rolla,MO,USA) ,  Peng Zhekun (EMC Laboratory, Missouri University of Science and Technology,Rolla,MO,USA) ,  Shumiya Hideki (Sony Global M&O Corporation,Tokyo,Japan) ,  Konno Shota (Sony Global M&O Corporation,Tokyo,Japan) ,  Araki Kenji (Sony Global M&O Corporation,Tokyo,Japan) ,  Pommerenke David (Graz University of Technology,Rechbauerstras&e 12, Graz,Austria,8010) ,  Kim Donghyun (EMC Laboratory, Missouri University of Science and Technology,Rolla,MO,USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： EMCSI  ページ： 200-204  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： USB界面のような市販の電子デバイス上で起こる静電放電(ESD)は,ICのソフト故障を誘起し,デバイスの通常の動作を妨げることができる。本論文では,このようなシステムの全体的な感度傾向と,異なるソフト故障の厳しさへの洞察を得るために,14の市販USBデバイスのソフト故障挙動を調査した。本論文では,新しい解析法を提案した。本研究で考慮したパラメータは,注入パルス幅,パルス上昇時間,電流レベル,DUTSのUSB標準,その他,ソフト故障が1A付近の電流で発生し始め,ほぼ全ての構成が6A以上の誤差を示す。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 界面 ,  電流 ,  *故障 ,  センシトメトリー ,  パルス ,  パルス幅
準シソーラス用語： 電子素子 ,  傾向解析 ,  静電気放電 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (6件)： USB ,  IC ,  ソフト ,  故障 ,  感度測定 ,  傾向解析