Wang Weiqi について
MEMS Center, Harbin Institute of Technology, 150001, China について
Cao Jiamu について
MEMS Center, Harbin Institute of Technology, 150001, China について
Cao Jiamu について
Key Laboratory of Micro-systems and Micro-Structures Manufacturing, Ministry of Education, 150001, China について
Zhou Jing について
MEMS Center, Harbin Institute of Technology, 150001, China について
Zhou Jing について
Key Laboratory of Micro-systems and Micro-Structures Manufacturing, Ministry of Education, 150001, China について
Chen Junyu について
MEMS Center, Harbin Institute of Technology, 150001, China について
Liu Junfeng について
MEMS Center, Harbin Institute of Technology, 150001, China について
Deng Huichao について
Beihang University, 100191, China について
Zhang Yufeng について
MEMS Center, Harbin Institute of Technology, 150001, China について
Zhang Yufeng について
Key Laboratory of Micro-systems and Micro-Structures Manufacturing, Ministry of Education, 150001, China について
Liu Xiaowei について
MEMS Center, Harbin Institute of Technology, 150001, China について
Liu Xiaowei について
Key Laboratory of Micro-systems and Micro-Structures Manufacturing, Ministry of Education, 150001, China について
Microelectronic Engineering について
単分子層 について
密度汎関数法 について
電荷移動 について
ナノ材料 について
単一層 について
状態密度 について
界面活性 について
捕獲 について
吸着 について
第一原理 について
吸着エネルギー について
吸着能力 について
ガス吸着 について
ガス検知 について
原子空孔 について
半導体集積回路 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
原子空孔 について
単分子層 について
センシング について
増強 について