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J-GLOBAL ID：202002211569091675   整理番号：20A0991096

ケルビンプローブ力顕微鏡(KPFM)による半導体表面における原子スケール表面電位計測の進展

Advances in atomic-scale surface potential measurements with Kelvin probe force microscopy (KPFM)

著者 (1件)： 菅原康弘 (大阪大 院)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 75  号： 1  ページ： ROMBUNNO.16aB42-5  発行年： 2020年03月23日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *顕微鏡観察 ,  Kelvin法 ,  半導体材料 ,  *表面電位 ,  *電気測定 ,  酸化チタン ,  状態 ,  電荷 ,  原子 ,  分子
準シソーラス用語： *Kelvinプローブ力顕微鏡法 ,  二酸化チタン ,  吸着原子 ,  吸着分子 ,  *電位計測 ,  電荷状態

分類 (1件)： 物理的手法を用いた吸着の研究  (CB12043P)

タイトルに関連する用語 (7件)： ケルビンプローブ力顕微鏡 ,  KPFM ,  半導体表面 ,  原子スケール ,  表面電位 ,  計測 ,  進展