文献

J-GLOBAL ID：202002212921185244   整理番号：20A2610542

統計的計測によるドレイン-ソース間電圧がランダムテレグラフノイズに与える影響の解析

Analysis of Effect of Drain-to-Source Voltage on Random Telegraph Noise by Statistical Measurement

著者 (9件)： 秋元瞭 (東北大 大学院工学研究科) ,  黒田理人 (東北大 大学院工学研究科) ,  黒田理人 (東北大 未来科学技術共同研究セ) ,  寺本章伸 (東北大 未来科学技術共同研究セ) ,  寺本章伸 (広島大 ナノデバイス・バイオ融合科研) ,  間脇武蔵 (東北大 大学院工学研究科) ,  市野真也 (東北大 大学院工学研究科) ,  諏訪智之 (東北大 未来科学技術共同研究セ) ,  須川成利 (東北大 未来科学技術共同研究セ)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告(Web)  (IEICE Technical Report (Web))
巻： 120  号： 205(SDM2020 14-21)  ページ： 34-39 (WEB ONLY)  発行年： 2020年10月15日 
JST資料番号： U2030A  ISSN： 2432-6380  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本研究では,長方形と台形のゲートを有する,各11520個のトランジスタのランダムノイズ特性を測定し,振幅や時定数といったランダムテレグラフノイズ(RTN)を特徴づけるパラメータ(時定数,振幅)を,様々なドレイン-ソース間電圧(V_DS)において抽出・解析した.結果から,各バイアス条件で形成されたチャネルにおいて,ゲート幅が最小となる部分にあるトラップによるRTNが支配的であり,V_DSが大きい時はソース側のトラップが最も影響力があることを明らかにした.この結果より,ドレイン-ソース方向のトラップの位置はRTN特性のV_DS依存性によって推測できると考えられる.(著者抄録)

シソーラス用語： ドレイン【半導体】 ,  ソース【半導体】 ,  *雑音 ,  電圧依存性 ,  *トランジスタ ,  特徴抽出 ,  パラメータ ,  電子 ,  捕獲中心 ,  *雑音測定 ,  ゲート【半導体】
準シソーラス用語： *ランダムテレグラフノイズ

分類 (4件)： 雑音測定  (ND04030F) ,  電解装置  (XE02030E) ,  トランジスタ  (NC03070N) ,  雑音一般  (ND04010J)

引用文献 (21件)：

• H. Kurata, K. Otsuga, A. Kotabe, S. Kajiyama, T. Osabe, Y. Sasago, S. Narumi, K. Tokami, S. Kamohara and O. Tsuchiya, “The Impact of Random Telegraph Signals on the Scaling of Multilevel Flash Memories, ” Tech. Dig. Symp. VLSI Technol., pp. 112-113, 2006.
• M. Yamaoka, H. Miki, A. Bansal, S. Wu, D. J. Frank, E. Leobandung, and K. Torii, “Evaluation methodology for random telegraph noise effects in SRAM arrays,” IEDM, Tech. Dig., pp. 745-748, 2011.
• V. Passi and J. P. Raskin, “Review on analog/radio frequency performance of advanced silicon MOSFETs, ” Semicond. Sci. Technol., vol. 32, no. 12, 2017.
• X. Wang, P. R. Rao, A. Mierop, and A. J. P. Theuwissen, “Random telegraph signal in CMOS image sensor pixels,” IEDM, Tech. Dig., pp. 115-118, 2006.
• C. Y. P. Chao, H. Tu, T. M. H. Wu, K. Y. Chou, S. F. Yeh, C. Yin and C. L. Lee, “Statistical analysis of the random telegraph noise in a 1.1 μm pixel, 8.3 MP CMOS image sensor using on-chip time constant extraction method,” Sensors, vol. 17, pp.2704-1-21,2017.

タイトルに関連する用語 (6件)： 統計 ,  計測 ,  ドレイン ,  ソース ,  ランダムテレグラフノイズ ,  解析