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J-GLOBAL ID:202002215461128737   整理番号:20A1716351

接合品質を改善するためのPEDOT:PSS/n型Si界面における熱アニール原子層堆積AlO/化学トンネル酸化物スタック層の効果【JST・京大機械翻訳】

Effect of thermally annealed atomic-layer-deposited AlO/chemical tunnel oxide stack layer at the PEDOT:PSS/n-type Si interface to improve its junction quality
著者 (11件):
資料名:
巻: 128  号:ページ: 045305-045305-12  発行年: 2020年 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ポリ(3,4-エチレンジオキシチオフェン):ポリ(スチレンスルホナート(PEDOT:PSS)/n型結晶Si(n-Si)界面での電界反転を不動態化し,増強するために,原子層堆積-作製AlO_x/化学トンネル酸化物(ch-SiO_x)積層層に及ぼす熱アニーリングの影響を調べた。560°C,30分間のN_2/H_2形成ガス中でのアニーリングは,AlO_x/ch-SiO_xスタック層の有効少数キャリア寿命(τ_eff)を300~331μsに増加させ,シート抵抗を減少させ,PEDOT:PSS/n-Siヘテロ接合太陽電池において,それぞれ750mVと645mVのビルトイン電位と開回路電圧を強化した。これらの改善は,AlO_x/n-Si界面での不動態化能力とバンド配列を決定するトンネル酸化物ch-SiO_xの局所化学結合構造に由来する。Copyright 2020 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
分類
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固体デバイス製造技術一般  ,  半導体薄膜 

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