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J-GLOBAL ID：202002216010119876   整理番号：20A0911694

階層的テストの応用【JST・京大機械翻訳】

Applications of Hierarchical Test

著者 (6件)： Ockunzzi Kelly (GLOBALFOUNDRIES Inc.,Essex Jct.,VT,USA) ,  Grupp Richard (GLOBALFOUNDRIES Inc.,Essex Jct.,VT,USA) ,  Keller Brion (GLOBALFOUNDRIES Inc.,Endicott,NY,USA) ,  Taylor Mark (GLOBALFOUNDRIES Inc.,Essex Jct.,VT,USA) ,  Pai Sreekanth (GLOBALFOUNDRIES Engineering Pvt. Ltd.,Bangalore,India) ,  Jayakumar Greeshma (GLOBALFOUNDRIES Engineering Pvt. Ltd.,Bangalore,India)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： ITC  ページ： 1-6  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 先端技術ノードは,より多くの機能性とより複雑性を持つためにチップ設計を可能にするが,より小さい次元のために欠陥を製造する傾向がある。階層的試験は,非常に大きな設計に関する自動テストパターン生成(ATPG)のために必要とされる資源と実行時間を容易にするために設計された最近の分割試験法である。本論文は,同一の論理ブロックの改良並列試験を含む著者らの実装の一般的アーキテクチャと詳細について議論した。事例研究として提示された3つの生産設計からの結果は,非常に大きな設計に関する階層的試験を用いる利点を示した。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *事例研究 ,  計算機アーキテクチャ
準シソーラス用語： 試験方法 ,  ATPG ,  実行時間 ,  複雑性 ,  機能性 ,  テストパターン生成 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (2件)： テスト ,  応用