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J-GLOBAL ID:202002223577301848   整理番号:20A1692989

トリメチルアルミニウムとアンモニアを用いたAlNの原子層蒸着【JST・京大機械翻訳】

Atomic layer deposition of AlN using trimethylaluminium and ammonia
著者 (4件):
資料名:
巻: 1492  号:ページ: 012046 (4pp)  発行年: 2020年 
JST資料番号: W5565A  ISSN: 1742-6588  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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薄いAlN膜を,Si基板上に,Picosun R-200原子層堆積(ALD)反応器で成長させた。トリメチルアルミニウム(TMA)とNH_3を前駆体として用いた。基板をH_2とN_2プラズマによりその場洗浄した。成長した膜の表面形態を温度範囲350~450°Cで調べた。膜の結晶構造をすれすれ入射X線回折により調べた。AlN膜は基板温度に関係なく六方晶ウルツ鉱型構造の多結晶であった。走査電子顕微鏡(SEM)の結果は,堆積温度が増加するにつれて10nmから30nmまでサイズが増加するナノメートルサイズの微結晶を明らかにした。結果は,薄いAlN膜の特性の更なる研究の観点から有望である。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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半導体薄膜  ,  酸化物薄膜 
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