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J-GLOBAL ID：202002227746245602   整理番号：20A1531857

材料研究のための回折コントラストを用いた電子断層撮影法

Electron tomography imaging methods with diffraction contrast for materials research

著者 (20件)： HATA Satoshi (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  FURUKAWA Hiromitsu (System in Frontier Inc., Tokyo, JPN) ,  GONDO Takashi (Mel-Build Corp., Fukuoka, JPN) ,  HIRAKAMI Daisuke (Nippon Steel Corp., Chiba, JPN) ,  HORII Noritaka (System in Frontier Inc., Tokyo, JPN) ,  IKEDA Ken-Ichi (Hokkaido Univ., Hokkaido, JPN) ,  KAWAMOTO Katsumi (System in Frontier Inc., Tokyo, JPN) ,  KIMURA Kosuke (Toray Res. Center, Inc., Shiga, JPN) ,  MATSUMURA Syo (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  MITSUHARA Masatoshi (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  MIYAZAKI Hiroya (Mel-Build Corp., Fukuoka, JPN) ,  MIYAZAKI Shinsuke (Mel-Build Corp., Fukuoka, JPN) ,  MIYAZAKI Shinsuke (Thermo Fisher Scientific, Tokyo, JPN) ,  MURAYAMA Mitsu Mitsuhiro (Virginia Tech, VA, USA) ,  MURAYAMA Mitsu Mitsuhiro (Pacific Northwest National Lab., WA, USA) ,  MURAYAMA Mitsu Mitsuhiro (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  NAKASHIMA Hideharu (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  SAITO Hikaru (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  SAKAMOTO Masashi (Nippon Steel Corp., Chiba, JPN) ,  YAMASAKI Shigeto (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
資料名： Microscopy  (Microscopy)
巻： 69  号： 3  ページ： 141-155  発行年： 2020年06月 
JST資料番号： W1384A  ISSN： 2050-5698  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ・透過型電子顕微鏡(TEM)と走査型透過電子顕微鏡(STEM)は,コンピュータ断層撮影アルゴリズムに基づく3D再構成技術を使用。
・原子からマイクロメートルスケールまでの3D微細構造の可視化を可能。
・この3D顕微鏡法は,電子断層撮影(ET)と呼ばれ,材料科学および工学の分野で利用。
・中間分解能(非原子分解能)のETイメージング手法の開発と導入は,研究者からかなり注目。
・本レビューは下記2点を説明することが目的。
・1つ目は,TEM/STEMイメージングの有効性の向上に関する中間解像度ETの現状と問題。
・2つ目は,最新の有望なアプリケーション。

シソーラス用語： *透過型電子顕微鏡 ,  透過型走査電子顕微鏡 ,  画像再構成 ,  *トモグラフィー ,  顕微鏡観察 ,  コントラスト ,  *電子回折 ,  コンピューター断層撮影
準シソーラス用語： 計算機トモグラフィー ,  3D再構成 ,  *断層撮影法 ,  顕微鏡法

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  電子回折法  (BK01030T)

タイトルに関連する用語 (3件)： 研究 ,  電子 ,  断層撮影法