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J-GLOBAL ID:202002227848711996   整理番号:20A2192516

走査Kelvinプローブ力顕微鏡により解析した破壊後の水素荷電S30408における水素分布と偏析【JST・京大機械翻訳】

Hydrogen distribution and segregation in hydrogen-charged S30408 after fracture analyzed via scanning Kelvin probe force microscopy
著者 (2件):
資料名:
巻: 528  ページ: Null  発行年: 2020年 
JST資料番号: B0707B  ISSN: 0169-4332  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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走査Kelvinプローブ力顕微鏡を用いて,破壊に伸びた後のS30408ステンレス鋼の水素分布と偏析を調べた。結果は,水素チャージS30408が厳しい水素脆化を受け,水素誘起亀裂がマルテンサイト(α′)とα′とオーステナイト(γ)の境界近傍で起こることを明らかにした。水素は,α′中の過剰水素により,歪誘起α′近傍のγに集まる。さらに,多くの水素原子がα′にトラップされている。α′とγの間の相境界近傍の水素偏析は,これらの位置で現れる亀裂の理由の1つである。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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金属薄膜  ,  13-15族化合物を含まない半導体-半導体接合 

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