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J-GLOBAL ID：202002228665595244   整理番号：20A0834756

ソフトスイッチング電力コンバータの損失推定のためのデバイス寄生容量を考慮したスイッチング過渡現象モデルの実験的検証【JST・京大機械翻訳】

Experimental Verification of a Model of Switching Transients Considering Device Parasitic Capacitance for the Loss Estimation of Soft-switching Power Converters

著者 (5件)： Tochigi Daiki (University of Tsukuba,Graduate School of Pure and Applied Sciences,Ibaraki,Japan) ,  Takashima Kaoru (University of Tsukuba,Graduate School of Pure and Applied Sciences,Ibaraki,Japan) ,  Isobe Takanori (University of Tsukuba,Faculty of Pure and Applied Sciences,Ibaraki,Japan) ,  Tadano Hiroshi (University of Tsukuba,Faculty of Pure and Applied Sciences,Ibaraki,Japan) ,  Tomoyuki Mannen (University of Tsukuba,Faculty of Pure and Applied Sciences,Ibaraki,Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： IFEEC  ページ： 1-7  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,ゼロ電圧スイッチング条件下で動作する電力変換器のスイッチング損失推定を目的としたMOS-FETのスイッチング過渡現象について検討した。スイッチングの簡単なモデルを記述した。このスイッチングモデルにおいて,ターンオフ中にデバイスのチャネルに流れる電流の一部はターンオフの瞬間にターンオフ損失を発生させ,残りの電流は寄生容量を充電するのに寄与する。したがって,スイッチング損失を発生しない。本論文では,デバイスのチャネルに流れる電流がスイッチング損失を引き起こすことを実験的に検証した。この検証をゼロ電圧ターンオン条件下で動作するコンバータにより実証した。さらに,本論文では,チャネルに流れる電流を実験条件とデバイスの静的特性から推定できることを提案した。提案した方法の精度を,素子の寄生容量をシミュレートする各端子間に接続した素子と外部コンデンサからなる素子モデルを用いて実験的に検証した。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： スイッチング損失 ,  *漂遊容量 ,  *電力変換器 ,  コンデンサ ,  ターンオン ,  電流 ,  ターンオフ ,  静特性 ,  零電圧スイッチング ,  ソフトスイッチング ,  チャネル ,  電圧 ,  スイッチング ,  変換器
準シソーラス用語： スイッチング過渡現象 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (9件)： ソフトスイッチング ,  電力コンバータ ,  損失 ,  推定 ,  寄生容量 ,  スイッチング過渡現象 ,  モデル ,  実験 ,  検証