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J-GLOBAL ID:202002230753798542   整理番号:20A0284212

Mg拡散による低ゲート漏れを持つノーマリオフAlGaN/GaN HEMTを作製するための高効率法【JST・京大機械翻訳】

A highly efficient method to fabricate normally-off AlGaN/GaN HEMTs with low gate leakage via Mg diffusion
著者 (7件):
資料名:
巻: 116  号:ページ: 023504-023504-4  発行年: 2020年 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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通常のAlGaN/GaN高電子移動度トランジスタ(HEMT)を作製するために,Mg拡散によるp型ドーピングゲートを実現する方法を提案した。作製は,ゲート領域への欠陥を導入するための最初の僅かなエッチングと,それからAlGaN障壁への拡散Mgイオンへの急速なアニーリングにより完了し,それによりp型ドーピング層を形成し,正にシフトした閾値電圧を形成する。さらに,熱酸化によって形成されたMgO層は,以前のエッチング手順で引き起こされた表面トラップを効果的に不動態化することができた。作製したままのHEMTは,2×10~7mA/mmの低いゲート漏れと1.4VのV_THを実証した。この技術は,高性能GaNパワーデバイスを作製するための簡単で高効率な方法を提供する。Copyright 2020 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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トランジスタ 

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