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J-GLOBAL ID：202002232923313802   整理番号：20A2230172

64-2:近接場ゴニオメトリー測定法を用いた非平面光源の計量学【JST・京大機械翻訳】

64-2: Metrology of Non-Planar Light Sources Using Near-Field Goniometric Measurement Method

著者 (4件)： Kaelaentaer K (Global Optical Solutions, R&D Center, Tokyo, 193-0832, Japan) ,  Tashiro Tomonori (Yamagata University, Yonezawa-Shi, Yamagata-Ken, 992-8510, Japan) ,  Toyota Toshihiro (Industrial Research Institute of Shizuoka Prefecture, Shizuoka, 421-1298, Japan) ,  Yamauchi Yasuki (Yamagata University, Yonezawa-Shi, Yamagata-Ken, 992-8510, Japan)
資料名： Digest of Technical Papers. SID International Symposium (Society for Information Display)  (Digest of Technical Papers. SID International Symposium (Society for Information Display))
巻： 51  号： 1  ページ： 953-956  発行年： 2020年 
JST資料番号： E0907A  ISSN： 0097-966X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,非平面光源(NPLS)の計測問題を研究した。近接場(NF)ゴニオメータ測定法を用いてNPLSを特性化した。NF法を用いて,輝度画像,強度,スペクトルおよび光源の色を光線角,すなわち球面座標系における天頂角および方位角の関数として求めた。NF光光線を用いて,後処理によって遠視野における光源の特性を得た。NPLS計測とNFゴニオメトリー測定システムの特徴を報告した。Copyright 2020 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *光源 ,  ゴニオメータ ,  方位角 ,  スペクトル ,  後処理 ,  光子ビーム ,  *面光源 ,  キャラクタリゼーション ,  極座標 ,  遠視野 ,  計測システム ,  *近接場 ,  天頂角 ,  ビーム
準シソーラス用語： 輝度画像 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 非平面光源 ,  近接場ゴニオメトリー測定 ,  近接場パターン ,  湾曲光源 ,  遠視野パターン

分類 (3件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S) ,  赤外・遠赤外領域の分光法と分光計  (BD07042H) ,  発光素子  (NC03082G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 近接場 ,  測定法 ,  計量