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J-GLOBAL ID：202002238518226230   整理番号：20A2737043

BL02B2(粉末結晶構造解析)の現状(2014)

Present Status of BL02B2 (2014)

著者 (2件)： 杉本邦久 (高輝度光科学研究セ) ,  藤原明比古 (高輝度光科学研究セ)
資料名： SPring-8/SACLA利用研究成果集(Web)  (SPring-8/SACLA Research Report (Web))
巻： 3  号： 1  ページ： 106-109 (WEB ONLY)  発行年： 2015年02月15日 
JST資料番号： U1844A  ISSN： 2187-6886  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・BL02B2は偏光電磁石を光源としたビームラインで,主として粉末試料による結晶構造解析を実施。
・現在,粉末回折実験により,相転移,構造変化,リートベルト解析,精密構造解析など物質構造と物性との相関を追及。
・光学ハッチには,二結晶分光器の前にミラーが設置されており,X線ビームの平行化及び高調波の除去に使用。
・粉末回折装置として,大型デバイシェラーカメラを常設。
・本ビームラインにおいて2013A期2013B期合わせて59課題実施。
・研究分野別では,無機系結晶45課題,有機・分子系結晶5課題,不均一系1課題,非晶質4課題,合成高分子1課題実施。
・本ビームライン高度化では,高分解能な粉末回折データ測定のハイスループット化を実行。

シソーラス用語： *ビームライン ,  放射光施設 ,  *X線構造解析 ,  結晶構造 ,  結晶構造解析 ,  *X線回折 ,  Rietveld法
準シソーラス用語： Debye-Scherrer法 ,  SPring-8 ,  X線結晶構造解析 ,  *粉末X線回折

分類 (3件)： X線技術  (BA02060D) ,  線源,照射装置  (MC01020V) ,  X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (3件)： 粉末 ,  結晶構造解析 ,  現状