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J-GLOBAL ID：202002239448773405   整理番号：20A2717767

走査Kelvinプローブ力顕微鏡(SKPFM)と水素濃度で測定したボルタ電位間の関係の定量的キャリブレーション【JST・京大機械翻訳】

Quantitative calibration of the relationship between Volta potential measured by scanning Kelvin probe force microscope (SKPFM) and hydrogen concentration

著者 (4件)： Ma Zhaoxiang (Beijing Advanced Innovation Center for Materials Genome Engineering, Corrosion and Protection Center, University of Science and Technology Beijing, Beijing 100083, China) ,  Xiong Xilin (Beijing Advanced Innovation Center for Materials Genome Engineering, Corrosion and Protection Center, University of Science and Technology Beijing, Beijing 100083, China) ,  Chen Lin (Beijing Advanced Innovation Center for Materials Genome Engineering, Corrosion and Protection Center, University of Science and Technology Beijing, Beijing 100083, China) ,  Su Yanjing (Beijing Advanced Innovation Center for Materials Genome Engineering, Corrosion and Protection Center, University of Science and Technology Beijing, Beijing 100083, China)
資料名： Electrochimica Acta  (Electrochimica Acta)
巻： 366  ページ： Null  発行年： 2021年 
JST資料番号： B0535B  ISSN： 0013-4686  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査Kelvinプローブ力顕微鏡(SKPFM)で測定したボルタ電位と純ニッケル表面の水素濃度値の間の定量的関係を較正した。フォイル試料の水素チャージ側の背面での連続SKPFM走査により,Volta電位の変化を達成した。一方,SKPFM測定表面に関する水素濃度値の進展は,拡散方程式と電気化学的水素透過試験を組み合わせることによって得られ,それは,充電表面C_0上の一定の水素濃度とニッケル箔D内の水素拡散係数を同時に推定することができた。結果は,SKPFMを含むVolta電位は,水素濃度が低い範囲で水素濃度の増加に伴い急激に減少することを示唆する。しかし,Volta電位の変化は,高い水素量レベルでの水素濃度の増加によりそれほど顕著ではなかった。SKPFM導出Volta電位と水素濃度間の関係を,修正Nernst方程式モデルによって定量的に記述した。本研究は,SKPFMが水素分布を定量化する強力な手段であるが,低い水素濃度範囲でのみ支配的であるかもしれないことを示した。さらに,広範囲の電位変化にわたって水素濃度に線形比例するVoltaポテンシャルを考慮することは妥当である。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 拡散係数 ,  拡散方程式 ,  *電位 ,  *水素 ,  充電 ,  線形性 ,  電気化学 ,  水素透過
準シソーラス用語： *水素濃度 ,  水素チャージ , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 定量化 ,  ボルタポテンシャル ,  水素濃度 ,  走査Kelvinプローブ力顕微鏡(SKPFM)

分類 (3件)： 電極過程  (CB07040U) ,  腐食  (WB03030B) ,  腐食基礎理論,腐食試験  (WB03020Q)

タイトルに関連する用語 (6件)： 走査 ,  Kelvinプローブ力顕微鏡 ,  水素濃度 ,  電位 ,  定量 ,  キャリブレーション