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J-GLOBAL ID：202002241814975777   整理番号：20A2648316

自動車MEMSは宇宙応用に信頼できるか?逐次バイパラメータ試験下の評価法【JST・京大機械翻訳】

Can automotive MEMS be reliably used in space applications? An assessment method under sequential bi-parameter testing

著者 (8件)： Auchlin Maxime (CSEM SA, Rue Jaquet-Droz 1, Neuchatel CH-2002, Switzerland) ,  Auchlin Maxime (ESA ESTEC, Keplerlaan 1, PO Box 299, Noordwijk NL-2200 AG, the Netherlands) ,  Auchlin Maxime (Swiss Space Center, EPFL, Route Cantonale, CH-1015 Lausanne, Switzerland) ,  Marozau Ivan (CSEM SA, Rue Jaquet-Droz 1, Neuchatel CH-2002, Switzerland) ,  Bayat Dara Z. (CSEM SA, Rue Jaquet-Droz 1, Neuchatel CH-2002, Switzerland) ,  Marchand Laurent (ESA ESTEC, Keplerlaan 1, PO Box 299, Noordwijk NL-2200 AG, the Netherlands) ,  Gass Volker (Swiss Space Center, EPFL, Route Cantonale, CH-1015 Lausanne, Switzerland) ,  Sereda Olha (CSEM SA, Rue Jaquet-Droz 1, Neuchatel CH-2002, Switzerland)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 114  ページ： Null  発行年： 2020年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 商用のOf-Thelf(COTS)自動車慣性測定ユニットを,厳しい累積応力条件,すなわち熱衝撃(高温勾配),温度サイクル(低勾配),および機械的振動を,破壊加速を促進し,寿命予測を改善する目的で,A-Ten-B逐次試験手順に組合せた。個々に適用した最大応力は,選択した部品に破壊を引き起こさなかった。一方,累積バイパラメータ試験条件はダイ付着剥離をもたらした。異なる前処理(A-テネ-BまたはB-テネ-A)で試験した3バッチのデバイスは,異なる信頼性図を示した。故障モードと影響解析(FMEA)を確立した。デバイスの破壊的物理的解析に基づいて有限要素解析(FEA)を行い,デバイスの熱機械的挙動を理解し,観察した破壊にリンクさせるため,破壊の物理と応力の間の相関を確認した。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 計測器 ,  高温 ,  付着 ,  *自動車 ,  信頼性 ,  機械振動 ,  熱サイクル ,  熱衝撃 ,  *宇宙空間 ,  故障モード ,  FMEA ,  寿命予測 ,  *MEMS
準シソーラス用語： 有限要素解析 ,  最大応力 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： トランジスタ  (NC03070N) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (10件)： 自動車 ,  MEMS ,  宇宙 ,  応用 ,  信頼 ,  逐次 ,  バイ ,  パラメータ ,  試験 ,  評価法