文献

J-GLOBAL ID：202002244412810050   整理番号：20A0787843

遺伝的アルゴリズムを用いた光スクリーン配列測定システムの鍵構造パラメータの反転法【JST・京大機械翻訳】

Inversion method of the key structure parameters of light screen array measurement system using genetic algorithm

著者 (4件)： Chen Rui (Shaanxi Province Key Laboratory of Photoelectric Measurement and Instrument Technology, Xi’an Technological University, Xi’an, 710021, China) ,  Chen Ding (Shaanxi Province Key Laboratory of Photoelectric Measurement and Instrument Technology, Xi’an Technological University, Xi’an, 710021, China) ,  Ji Bowen (Shaanxi Province Key Laboratory of Photoelectric Measurement and Instrument Technology, Xi’an Technological University, Xi’an, 710021, China) ,  Ni Jinping (Shaanxi Province Key Laboratory of Photoelectric Measurement and Instrument Technology, Xi’an Technological University, Xi’an, 710021, China)
資料名： Optik  (Optik)
巻： 206  ページ： Null  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0251A  ISSN： 0030-4026  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 連続的迅速発火兵器の評価における光スクリーン配列測定システム(短いためのLSA)の測定精度を効果的に改善するために,本論文は遺伝的アルゴリズムに基づくLSAのキー構造パラメータを得るためのインバージョン法を提示した。最初に,LSAのキー構造パラメータに基づく測定モデルを系統的に導入した。第二に,測定結果の検証を通して目的関数を確立した。次に,許容誤差範囲内で多くのグループの構造パラメータを生成するためのインバージョン法を導出した。最後に,著者らは,それらの真理値に最も近い重要な構造パラメータのグループを得るために,遺伝的アルゴリズムを採用することができた。シミュレーションと実験を通して,結果は,測定モデルがインバージョンを通して重要な構造パラメータのために修正されることを示し,したがって,LSAの精度は効果的に改善される。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *構造パラメータ ,  計測システム ,  測定精度 ,  *スクリーン ,  公差 ,  *遺伝的アルゴリズム ,  宇宙空間 ,  兵器 ,  目的関数
準シソーラス用語： 測定モデル ,  インバージョン法 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 光電測定 ,  光スクリーン配列測定システム ,  宇宙構造 ,  パラメータ反転 ,  遺伝的アルゴリズム

分類 (1件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (6件)： 遺伝的アルゴリズム ,  スクリーン ,  測定システム ,  鍵 ,  構造パラメータ ,  反転