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J-GLOBAL ID：202002246068009078   整理番号：20A0426805

水素負イオン源プラズマ中の電子輸送を研究するための低エネルギー小型電子銃の開発【JST・京大機械翻訳】

Development of a low energy small electron gun to study electron transport in hydrogen negative ion source plasmas

著者 (6件)： Matsumoto Yoshikatsu (Tokushima Bunri Univerisity, Nishihama, Tokushima 770-8514, Japan) ,  Kisaki Masashi (National Institute for Fusion Science, 322-6 Oroshi-cho, Toki, Gifu 509-5292, Japan) ,  Shinto Katsuhiro (Japan Atomic Energy Agency, J-PARC Center, Tokai-mura, Naka-gun, Ibaraki 319-1195, Japan) ,  Nakano Haruhisa (National Institute for Fusion Science, 322-6 Oroshi-cho, Toki, Gifu 509-5292, Japan) ,  Sasao Mamiko (Doshisha University, Kyotanabe, Kyoto 610-0394, Japan) ,  Wada Motoi (Doshisha University, Kyotanabe, Kyoto 610-0394, Japan)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 91  号： 1  ページ： 013333-013333-5  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 水素負イオン源プラズマ中の電子の減速と輸送機構を調べるために,数10eV以下の運動エネルギーをもつ電子を生成できる小型電子銃を開発した。最大抽出可能ビーム電流密度は予備実験において1eVビームエネルギーに対して36μA/cm2に達した。現在の電子電流密度は,我々の目標値,1mA/cm2と比較してまだ不十分であるが,本研究を通して電子銃からより大きなビーム電流密度を実現するためのいくつかのヒントを見出した。電子ビーム軸に沿った測定ビーム分布は,電子ビームが真空中の電子銃から約7mm移動できることを示した。粒子-In-Cell(PIC)シミュレーションは測定したビームプロファイルを良く説明し,電子ビームが1eV平均エネルギーに比べて0.1eVの小さいエネルギー広がりを持つことを示した。PICシミュレーションは電子銃のビーム抽出電圧に対する電子ビーム電流の依存性における測定からの矛盾を示した。これは,低エネルギー電子の輸送をより正確に研究するために,PICシミュレーションにおいて電子銃内部により現実的なフィラメント構造を導入すべきであることを意味する。Copyright 2020 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： ビーム取出し ,  電流密度 ,  運動エネルギー ,  電流 ,  シミュレーション ,  *電子銃 ,  *水素 ,  *プラズマ ,  *負イオン源 ,  電圧 ,  電子ビーム
準シソーラス用語： PICシミュレーション ,  ビーム電流 ,  *低エネルギー ,  *電子輸送 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電子源,イオン源  (BD02020U)

タイトルに関連する用語 (6件)： プラズマ ,  電子輸送 ,  研究 ,  低エネルギー ,  電子銃 ,  開発