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J-GLOBAL ID：202002246098196202   整理番号：20A1037049

暗号の統計的解析のためのビット平面特異ランダム性試験【JST・京大機械翻訳】

Bit-Plane Specific Randomness Testing for Statistical Analysis of Ciphers

著者 (3件)： Ratan Ram (Defence Research and Development Organization, Scientific Analysis Group, Delhi, India) ,  Jangid Bharat Lal (Defence Research and Development Organization, Scientific Analysis Group, Delhi, India) ,  Arvind (Hansraj College, University of Delhi, Delhi, India)
資料名： Advances in Intelligent Systems and Computing  (Advances in Intelligent Systems and Computing)
巻： 1138  ページ： 199-213  発行年： 2020年 
JST資料番号： W5075A  ISSN： 2194-5357  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 暗号システムに対して,ランダム数発生器により生成されるラタン,ラムキー列は,様々な測度により統計的に解析できるランダム性特性を満足しなければならない。既存のランダム性Jangid,Bharat Lal Analysis Arvind研究は,一次元としてビットのストリームとしてキーシーケンスを考慮する。本論文では,二次元ベクトルとしてビットの鍵系列を考察し,ビット平面固有統計測度に基づく新しいランダム性テストを提案した。著者らは,各ビット面に対して,列状および列状の周波数,エントロピー,および隣接列(カラム)相関を計算することにより,列ベクトルおよび列ベクトル測度を得た。著者らは,p値を計算するために,上述のベクトルに適合するχ2乗の適合性を適用した。p値が各ビット面における試験基準を満たすとき,ランダム性試験パスを通過する。統計解析を,異なるデータに関する提案したランダム性試験を適用することによって実行した。暗号データは良好なランダム性を示すが,ランダムアルファベットデータと単純画像データはパターンの存在により非ランダム性を示す。提案した試験は,データの二次元特性を利用することにより厳密な解析を行い,暗号の統計解析を実行するのに非常に有用であると思われる。Copyright Springer Nature Singapore Pte Ltd. 2020 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： エントロピー ,  *測度 ,  ベクトル ,  乱数 ,  適応性 ,  二次元 ,  一次元 ,  暗号
準シソーラス用語： 画像データ ,  *ランダム性 ,  p値 ,  再生器 ,  *ビットプレーン , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (7件)： ビット平面測度 ,  暗号 ,  暗号化 ,  適合性の良さ ,  p値 ,  ランダム性 ,  統計的試験

分類 (1件)： 符号理論  (ND02030R)

タイトルに関連する用語 (5件)： 暗号 ,  統計的解析 ,  ビット平面 ,  ランダム性 ,  試験