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J-GLOBAL ID：202002246169341660   整理番号：20A2232918

マイクロ波Rayleigh散乱によるパルスマイクロ波アルゴンプラズマジェットの過渡電子密度の測定【JST・京大機械翻訳】

Measurement of transient electron density of a pulsed microwave argon plasma jet via microwave Rayleigh scattering

著者 (6件)： Zhang Ming (Anhui Province Key Laboratory of Power Electronics and Electrical Drive, Anhui University of Technology, Maanshan 243032, People’s Republic of China) ,  Chen Zhaoquan (Anhui Province Key Laboratory of Power Electronics and Electrical Drive, Anhui University of Technology, Maanshan 243032, People’s Republic of China) ,  Wu Jinfang (Anhui Province Key Laboratory of Power Electronics and Electrical Drive, Anhui University of Technology, Maanshan 243032, People’s Republic of China) ,  Zhang Huang (Anhui Province Key Laboratory of Power Electronics and Electrical Drive, Anhui University of Technology, Maanshan 243032, People’s Republic of China) ,  Zhang Sanyang (Anhui Province Key Laboratory of Power Electronics and Electrical Drive, Anhui University of Technology, Maanshan 243032, People’s Republic of China) ,  Lu Xinpei (State Key Laboratory of Advanced Electromagnetic Engineering and Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, Hubei 430074, People’s Republic of China)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 128  号： 12  ページ： 123301-123301-11  発行年： 2020年 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 大気圧プラズマジェットにおける電子密度とその過渡変化を測定することが重要である。本研究では,大気圧でのパルスマイクロ波アルゴンプラズマジェットの過渡的電子密度を自家製マイクロ波Rayleigh散乱装置を用いて測定した。最初に,プラズマジェットの高速写真を,強化電荷結合素子カメラによって捕捉した。次に,プラズマジェットの半径と長さを高速写真から決定した。最後に,時間散乱信号測定を行い,時変電子密度を得た。電子密度は45μsで4.55×1020m-3のピーク値に増加した。次に,それは検出限界に達するまで単調に減衰する。40μsの後,入力マイクロ波パワーがないが,電子密度はまだ鋭いピークを示すことを指摘した。これは,放電形態の変化をさらに誘起するイオン化プロセスに変化があることを示した。さらに,電磁シミュレーションモデルを変調して,2つの異なる散乱体(空気とプラズマ)によって生成された散乱電場分布をシミュレーションした。シミュレーション結果は,散乱体のより高い電子密度が,より強力な散乱信号の取得につながり,それは,マイクロ波散乱過程が,双極子放射と関連したものと類似していることを示している。これらの結果は,マイクロ波Rayleigh散乱を用いて測定した過渡電子密度の精度を検証した。Copyright 2020 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *Rayleigh散乱 ,  イオン化 ,  高速度写真 ,  *散乱 ,  *プラズマ ,  シミュレーション ,  *電子密度 ,  *プラズマジェット ,  放電 ,  *マイクロ波 ,  *パルス ,  検出限界 ,  散乱体 ,  CCDカメラ
準シソーラス用語： 電界分布 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： プラズマ診断  (BJ02090L) ,  プラズマ一般  (BJ02010B) ,  プラズマ中の電磁波  (BJ02032F)

タイトルに関連する用語 (6件)： マイクロ波 ,  Rayleigh散乱 ,  パルス ,  アルゴン ,  プラズマジェット ,  電子密度